Röntgendiffraktometer Bruker D2 Phaser
Röntgendiffraktometrie (XRD: X-Ray Diffraction) basiert auf der Beugung von Röntgenstrahlung an den Netzebenenscharen im dreidimensional periodischen Gitter von Kristallen. Jede kristalline Verbindung besitzt aufgrund ihrer individuellen Gitternetzebenenabstände bzw. Kristallstruktur ein bestimmtes Muster an Röntgenreflexen. Somit lassen sich detaillierte Informationen über die Kristallstruktur, aber auch über in Werkstoffen enthaltene Phasen aus Röntgenbeugungsdaten ableiten.
Technische Spezifikationen:
- Bragg-Brentano-Geometrie mit Theta/Theta-Anordnung
- Betriebsspannung / -strom: 30 kV, 10 mA
- Goniometerradius: 141 mm
- max. Auflösung (FWHM) < 0,05 °2Theta
- Probenrotation durch Drehprobenträger möglich
- Cu-Röhre: Cu Kα1,2-Strahlung (sekundärseitiger Ni-Filter)
- LynxEye Si-Streifendetektor mit Möglichkeit zur Fluoreszenzunterdrückung, insbes. bei Fe-haltigen Proben
Probenanforderungen:
- Kristallines Material
- Pulver mit mind. 1,5 cm3 Volumen - bei komprimierbaren Pulvern gilt dies für den verpressten Zustand
oder
- festes Material mit planparallelen Oberflächen, davon eine glatt (z.B. poliert), zylindrische oder rechteckige Geometrie mit max. 40 mm Durchmesser und 7,5 mm Tiefe
Anwendung:
- strukturelle Werkstoffcharakterisierung
- qualitative Phasenanalyse (Search/Match)
- quantitative Phasenanalyse via Rietveld-Methode
