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Aktuelles

  • Promotionsvorhaben von Herrn M.Sc. Robert Fussik
    Erstes Promotionsvorhaben am Lehrstuhl FUW neigt sich dem Ende zu. [mehr]
  • WiLa wird wiedereröffnet
    Wissenschaftsladen öffnet wieder seine Türen. [mehr]
  • Neues ZIM-Vorhaben bewilligt
    Projektstart zum 01. Januar 2020! [mehr]
  • Besuch bei :metabolon
    Das FUW-Team unterwegs in Lindlar [mehr]
  • Humboldt-Stipendiat aus Nigeria forscht im Solinger Forum Produktdesign
    Seit Anfang Juni ist der nigerianische Wissenschaftler Dr. Peter Farayibi zu Gast bei uns! [mehr]
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Röntgendiffraktometer Bruker D2 Phaser

Röntgendiffraktometrie (XRD: X-Ray Diffraction) basiert auf der Beugung von Röntgenstrahlung an den Netzebenenscharen im dreidimensional periodischen Gitter von Kristallen. Jede kristalline Verbindung besitzt aufgrund ihrer individuellen Gitternetzebenenabstände bzw. Kristallstruktur ein bestimmtes Muster an Röntgenreflexen. Somit lassen sich detaillierte Informationen über die Kristallstruktur, aber auch über in Werkstoffen enthaltene Phasen aus Röntgenbeugungsdaten ableiten.

Technische Spezifikationen:

  • Bragg-Brentano-Geometrie mit Theta/Theta-Anordnung
  • Betriebsspannung / -strom: 30 kV, 10 mA
  • Goniometerradius: 141 mm
  • max. Auflösung (FWHM) < 0,05 °2Theta
  • Probenrotation durch Drehprobenträger möglich
  • Cu-Röhre: Cu Kα1,2-Strahlung (sekundärseitiger Ni-Filter)
  • LynxEye Si-Streifendetektor mit Möglichkeit zur Fluoreszenzunterdrückung, insbes. bei Fe-haltigen Proben

Probenanforderungen:

  • Kristallines Material
  • Pulver mit mind. 1,5 cm3 Volumen - bei komprimierbaren Pulvern gilt dies für den verpressten Zustand

oder

  • festes Material mit planparallelen Oberflächen, davon eine glatt (z.B. poliert), zylindrische oder rechteckige Geometrie mit max. 40 mm Durchmesser und 7,5 mm Tiefe

Anwendung:

  • strukturelle Werkstoffcharakterisierung
  • qualitative Phasenanalyse (Search/Match)
  • quantitative Phasenanalyse via Rietveld-Methode